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A visão computacional traz precisão e rastreabilidade ao fabrico de chips

A visão computacional traz precisão e rastreabilidade ao fabrico de chips

O fabrico de semicondutores exige uma precisão que não permite erros de identificação. Wafers, matrizes e encapsulamentos devem ser rastreados durante inspeção, classificação, montagem e teste final.

Os códigos podem ser muito pequenos, ter baixo contraste ou estar marcados diretamente em superfícies refletivas. Leitores industriais com sensores CMOS e algoritmos avançados captam estes códigos a alta velocidade e sob iluminação difícil.

O módulo GT-ID2013LM da Xincode foi concebido para integração em equipamentos automatizados e leitura de códigos Data Matrix e DPM. Uma identificação estável evita interrupções de lote e associa os dados de qualidade a cada componente.